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JEOL可移動(dòng)式掃描電子顯微鏡JCM-5700是一臺(tái)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)-研究室用SEM 　
在任何地方都可以使用的高性能可移動(dòng)式SEM 　
運(yùn)行成本低(長(zhǎng)時(shí)間不用維護(hù))檢查項(xiàng)目-研究題目等各項(xiàng)條件均可記憶　
任何人都可以得到良好結(jié)果的高度再現(xiàn)性可以設(shè)定獨(dú)立的操作條件,使用更加自由的MY SEM

輕松獲得幾萬倍的圖像
簡(jiǎn)單友好的操作界面
儀器啟動(dòng)僅需3分鐘
請(qǐng)看掃描電子顯微鏡的威力

與光學(xué)顯微鏡和激光顯微鏡的比較

掃描電子顯微鏡（SEM)與光學(xué)顯微鏡和激光顯微鏡相比，具有焦距更深，分辨率更好的特點(diǎn)。相反，得不到象光學(xué)顯微鏡那樣獲得的純自然光澤。我們利用掃描電子顯微鏡的主要特點(diǎn)，可以廣泛應(yīng)用于科研和生產(chǎn)。

光學(xué)顯微鏡＜樣品: 印刷基板＞掃描電子顯微鏡 JCM-5700

鮮明的SEM圖像上進(jìn)行高精度測(cè)量

從極低倍到高倍，在圖像上就可以直接進(jìn)行長(zhǎng)度和角度測(cè)量，即在鮮明的圖像上進(jìn)行高精度測(cè)量。保存后的圖像也可以用SMile View軟件（選購件）打開并進(jìn)行測(cè)量。

3D觀察-測(cè)量（選購）

利用掃描電子顯微鏡焦深大的特點(diǎn)，可以進(jìn)行立體的高度測(cè)量。同一個(gè)視野，傾斜角度改變10°左右，獲得兩張圖像，進(jìn)行高度測(cè)量。

不僅可以觀察圖像，還可以進(jìn)行成分分析

不僅可以利用二次電子信息進(jìn)行樣品表面觀察，還可以利用背散射電子成份襯度像進(jìn)行異物及多層膜觀察。另外，還可以使用能量分散型光譜儀（EDS）進(jìn)行元素分析。日本電子產(chǎn)能譜儀JED-2300可以與主機(jī)實(shí)現(xiàn)一體化，將點(diǎn)鏡擴(kuò)展為分析型點(diǎn)鏡。