X熒光鍍層測厚分析儀結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測器確保的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率*，能更容易地識別、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測結(jié)果可精確到ppm級，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求，幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本。您可以針對您的應(yīng)用選擇zui合適的分析模型：經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合。這款儀器能對電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進(jìn)行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區(qū)域，即可對特定小點進(jìn)行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規(guī)則的樣品，大艙門使樣品更易放入。

    X熒光鍍層測厚分析儀組成

• 100瓦X射線管 
• 25mm²PIN 探測器
• 多準(zhǔn)直器配置
• 掃描分析及元素分布成像功能
• 靈活運用多種分析模型
• 清晰顯示樣品合格/不合格
• 超大樣品艙
• 同時分析元素含量和鍍層厚度

：/黃